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    • 高溫高濕高壓試驗(yàn)箱

      高溫高濕高壓試驗(yàn)箱執(zhí)行與滿足標(biāo)準(zhǔn)1. GB/T10586-1989濕熱試驗(yàn)室技術(shù)條件;  2. GB2423.3-93(IEC68-2-3)恒定濕熱試驗(yàn);3. MIL-STD810D方法502.2 4. GJB150.9-8溫濕試驗(yàn);5. GB2423.34-86、MIL-STD883C方法1004.2溫濕度、高壓組合循環(huán)試驗(yàn);

      瀏覽次數(shù):3844
      更新時(shí)間:2024-07-03
    • PCT試驗(yàn)箱

      PCT試驗(yàn)箱臨界點(diǎn)LIMIT方式自動(dòng)安全保護(hù),異常原因與故障指示燈顯示。利型packing,箱內(nèi)壓力愈大時(shí),packing會(huì)有反壓會(huì)使其與箱體更緊密結(jié)合,與傳統(tǒng)擠壓式*不同,可延長(zhǎng)packing壽命。自動(dòng)門(mén)禁,圓型門(mén)自動(dòng)溫度與壓力檢知安全門(mén)禁鎖定控制,利安全門(mén)把設(shè)計(jì),箱內(nèi)有大于常壓時(shí)測(cè)試們會(huì)被反壓保護(hù)。

      瀏覽次數(shù):2027
      更新時(shí)間:2024-06-07
    • 可靠性PCT老化試驗(yàn)箱

      艾思荔可靠性PCT老化試驗(yàn)箱具有自動(dòng)加水功能并且在試驗(yàn)過(guò)程中水位過(guò)低時(shí)自動(dòng)補(bǔ)水,試驗(yàn)過(guò)程自動(dòng)運(yùn)轉(zhuǎn)至完成結(jié)束,使用簡(jiǎn)便。外箱材質(zhì)采用不銹鋼鋼板,靜電噴塑處理。內(nèi)箱材質(zhì)采用SUS304耐寒耐熱不銹鋼板。

      瀏覽次數(shù):2300
      更新時(shí)間:2024-06-07
    • hast-45高壓加速老化試驗(yàn)箱

      hast-45高壓加速老化試驗(yàn)箱產(chǎn)品簡(jiǎn)介:$n 測(cè)試產(chǎn)品在高溫、高溫高濕及壓力的氣候環(huán)境下的貯存、運(yùn)輸和使用時(shí)的性能試驗(yàn),主要用于對(duì)電工、電子產(chǎn)品,元器件、零部件、金屬材料及其材料在模擬高溫、高溫高濕及壓力的氣候條件下,對(duì)產(chǎn)品的物理以及其它相關(guān)性能進(jìn)行測(cè)試,測(cè)試后,通過(guò)檢定來(lái)判斷產(chǎn)品的性能是否能夠達(dá)到要求,以便供產(chǎn)品的設(shè)計(jì)、改進(jìn)、檢定及出廠檢驗(yàn)使用。

      瀏覽次數(shù):2328
      更新時(shí)間:2024-06-07
    • hast加速老化試驗(yàn)箱

      hast加速老化試驗(yàn)箱技術(shù)準(zhǔn)確,具有自動(dòng)加水功能并且在試驗(yàn)過(guò)程中水位過(guò)低時(shí)自動(dòng)加水200h。試驗(yàn)過(guò)程中圓幅內(nèi)襯設(shè)計(jì),可避免蒸汽過(guò)熱沖擊損失測(cè)品。

      瀏覽次數(shù):2163
      更新時(shí)間:2024-06-22
    • 非飽和高壓加速老化試驗(yàn)機(jī)

      非飽和高壓加速老化試驗(yàn)機(jī)用于調(diào)查分析何時(shí)出現(xiàn)電子元器件,和機(jī)械零件的摩耗和使用壽命的問(wèn)題,使用壽命的故障分佈函數(shù)呈什么樣的形狀,以及分析失效率上升的塬因所進(jìn)行的試驗(yàn)。

      瀏覽次數(shù):2289
      更新時(shí)間:2024-06-22
    • 蒸煮HAST老化試驗(yàn)箱

      HAST老化試驗(yàn)箱廣泛應(yīng)用于線路板,多層線路板,IC,LCD,磁鐵等產(chǎn)品之密封性能的檢測(cè),測(cè)試其制品的耐厭性,氣密性。實(shí)驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn):GB2423-2-1-89 、 GB2423-3-2-89 、 GB2423-3-93。

      瀏覽次數(shù):1874
      更新時(shí)間:2024-06-22
    • 高壓老化試驗(yàn)箱

      高壓老化試驗(yàn)箱又稱為高壓加速老化試驗(yàn)箱,主要是針對(duì)于電工、電子產(chǎn)品,以及其元器件,及其它材料在高溫、低溫的環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)。

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      更新時(shí)間:2024-07-03
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